人工晶狀體波前測量儀 Trioptics WaveMaster® IOL
Product Details
德國全歐(TRIOPTICS)設(shè)計、生產(chǎn)的人工晶狀體波前測量儀 Trioptics WaveMaster® IOL是一款通過測量波前來檢測人工晶狀體的新型設(shè)備,它可以測量和分析人工晶狀體的實時光學(xué)波前面?;谶@種測量模式,無論是球面、非球面、環(huán)曲面、單焦和多焦的人工晶狀體都可以被測量。WaveMaster® IOL也可以附加基于ISO11979標(biāo)準(zhǔn)的模擬眼來模擬人眼的狀態(tài)進(jìn)行測量。該款儀器在研發(fā)和量產(chǎn)型檢測中都有著廣泛的應(yīng)用。
產(chǎn)品型號
• WaveMaster® IOL
• WaveMaster® IOL PRO Tray
產(chǎn)品型號及技術(shù)指標(biāo)
WaveMaster® IOL |
OptiSpheric® IOL |
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可測量參數(shù) |
屈光度、EFL、MTF、PSF、角膜散光度(柱鏡度)、低階和高階像差 |
屈光度、EFL、MTF、PSF、角膜散光度(柱鏡度)、曲率半徑(R)、后截距(BFL) |
EFL測量精度 |
0.1%…0.3% |
0.1%…0.3% |
屈光度測量范圍 |
直接測量時: · 空氣中:>+4 D, <-10 D · 模擬眼中:> +10 D, <-30 D 擴(kuò)展測量時: · 空氣中:<+3 D, >-3 D · 模擬眼中:<+1D, >-1D 使用模擬角膜時: · 模擬眼中:沒有限制 |
+/-5…+/-200D(在空氣中) 配合模擬角膜時:0…+/-400D
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屈光度測量精度 |
0.1%…0.3% |
0.1%…0.3% |
MTF測量精度 |
+/-0.02 MTF |
+/-0.02 MTF(0-300lp/mm) |
測量時間 |
5秒/顆
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單焦:15秒/顆 多焦:45秒/顆 |
測量波長 |
532nm |
546.1nm |
特點 |
運(yùn)用澤尼克多項式分析波前,可測量球差、慧差、像散等 |
測量完全基于ISO11979的標(biāo)準(zhǔn) |
產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTER