共 6 個產(chǎn)品
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波前傳感器 WaveSensor®
可用于激光光束質(zhì)量及其動態(tài)變化的診斷、光學(xué)系統(tǒng)像質(zhì)的檢驗、介質(zhì)擾動對光束質(zhì)量影響的測量、大型球面鏡鏡面面形精度的檢測等深入研究激光光束和光學(xué)系統(tǒng)質(zhì)量及其動態(tài)變化過程、分析影響因素的有力手段 -
人工晶狀體波前測量儀 Trioptics WaveMaster® IOL
德國全歐(TRIOPTICS)設(shè)計、生產(chǎn)的人工晶狀體波前測量儀 Trioptics WaveMaster? IOL是一款通過測量波前來檢測人工晶狀體的新型設(shè)備,它可以測量和分析人工晶狀體的實時光學(xué)波前面?;谶@種測量模式,無論是球面、非球面、環(huán)曲面、單焦和多焦的人工晶狀體都可以被測量。WaveMaster? IOL也可以附加基于ISO11979標準的模擬眼來模擬人眼的狀態(tài)進行測量。該款儀器在研發(fā)和量產(chǎn)型檢測中都有著廣泛的應(yīng)用。 -
夏克-哈特曼波前傳感器 單通道波前傳感器 波前測量儀 自動波前偉感器單程和雙程
夏克-哈特曼波前傳感器 單通道波前傳感器 離軸波前測量儀 自動波前偉感器單程和雙程 -
量產(chǎn)型波前測量儀 WaveMaster® PRO2
量產(chǎn)型波前測量儀 WaveMaster? PRO系列產(chǎn)品是為了適應(yīng)波前質(zhì)量大批量檢測需求而研發(fā)的兩款儀器。可自行設(shè)置合格標準,并根據(jù)該標準自動判定合格和不合格。WaveMaster? PRO 2和WaveMaster? PRO 2 Wafer配備托盤系統(tǒng),實現(xiàn)對單個小鏡片的大批量檢測。WaveMaster? PRO 2 Wafer則可以對晶圓級鏡頭的波前進行快速檢測。 -
緊湊型波前測量儀 Trioptics WaveMaster® Compact
波前測量儀 Trioptics WaveMaster? 球面或非球面鏡片光學(xué)波前面和鏡片或鏡頭的表面面形的檢測.合了目前最先進的波前傳感技術(shù),并配備有光源、樣品承載臺、準直系統(tǒng)或望遠擴(縮)束系統(tǒng)及波前傳感器,可輕松的構(gòu)建有限軛或無限軛測量模式。 -
全視場型波前測量儀 WaveMaster® Field
WaveMaster? Field為研發(fā)所設(shè)計,該系統(tǒng)既可以在±60°范圍內(nèi)對整個視場內(nèi)的樣品進行全面測量,又可以進行后續(xù)的深入分析。
產(chǎn)品中心
PRODUCT CENTER