高反射率測(cè)量?jī)x

    CRD-高反射率測(cè)量?jī)x是一款專為高精度反射率測(cè)量而設(shè)計(jì)的先進(jìn)儀器。該測(cè)量?jī)x基于光腔衰蕩法（Cavity Ring-Down，CRD）原理，能夠精確測(cè)量各類樣品的反射率，尤其適用于反射率高于99.9%的高反膜等樣品，廣泛應(yīng)用于光學(xué)薄膜、精密光學(xué)元件等領(lǐng)域，為科研與工業(yè)生產(chǎn)提供可靠的數(shù)據(jù)支持。

    CRD-高反射率測(cè)量?jī)x采用光腔衰蕩法進(jìn)行測(cè)量。儀器內(nèi)部由兩片高反射鏡M1和M2組成光學(xué)諧振腔。當(dāng)一束脈沖激光沿腔體軸向入射時(shí)，忽略衍射及輻射損耗，光脈沖在兩反射鏡之間往返振蕩。探測(cè)器接收到的光脈沖信號(hào)強(qiáng)度隨時(shí)間呈指數(shù)衰減，通過精確測(cè)量信號(hào)衰減時(shí)間，結(jié)合理論計(jì)算，即可準(zhǔn)確求出待測(cè)樣品的反射率!CRD-高反射率測(cè)量?jī)x是一款專為高精度反射率測(cè)量而設(shè)計(jì)的先進(jìn)儀器。