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OptoFlat® 高精度低相干干涉儀
OptoFlat? 高精度低相干干涉儀是行業(yè)內(nèi)獨(dú)有的低成本、高穩(wěn)定性以及結(jié)構(gòu)緊湊的平面專用低相干干涉儀。其采用低相干性長壽命633nm的LED光源，波長帶寬1nm。在測量透明材質(zhì)的雙面平行光學(xué)元件的單個表面面型時不會受到其他表面的干涉條紋影響，所以O(shè)ptoFlat可以排除來自多個表面的干擾，直接測得目標(biāo)表面的面型精度。對于測量實(shí)心玻璃棱鏡的前表面面型時也可以抑制其他反射面的影響。2023-06-01 -
µPhase® UNIVERSAL 100 臥式干涉儀
*用于測量平面和球面的4英寸干涉檢測系統(tǒng)
*適合長焦光學(xué)零件和系統(tǒng)的檢測
*鏡頭口徑：50mm、100mm或150mm2023-06-01 -
高精度干涉儀 Trioptics μPhase®
用于測量高精度要求的光學(xué)零件，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進(jìn)行最精確的評價。2023-06-01
面型測試設(shè)備(干涉儀)
μPhase®系列干涉儀可對高精度要求的光學(xué)零件進(jìn)行面型測試，材料包括玻璃、塑料、金屬、陶瓷等，非接觸式測量可保證在不傷害光學(xué)表面的前提下對光學(xué)表面及波前進(jìn)行最精確的評價。
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