PLI弱吸收測(cè)試儀是一款基于熱透鏡效應(yīng)，對(duì)激光光學(xué)元件的弱吸收具有高靈敏度的測(cè)試儀，可廣泛應(yīng)用于晶體材料吸收、薄膜吸收和表面缺陷分析。
    應(yīng)用光熱透鏡原理，利用一束泵浦激光照射樣品待測(cè)區(qū)域，該區(qū)域由于熱透鏡效應(yīng)從而產(chǎn)生表面形變分布或體內(nèi)折射率梯度分布。同時(shí)采用另一束探測(cè)激光照射在樣品同一區(qū)域，透射過(guò)樣品的探測(cè)光光熱信號(hào)包含表面形變或折射率變化的振幅和相位等信息。光熱信號(hào)由光電探測(cè)器收集，通過(guò)探測(cè)光中心光強(qiáng)的變化表征，光熱信號(hào)再經(jīng)鎖相放大器轉(zhuǎn)換為可分析處理的電信號(hào)，最終計(jì)算得到被測(cè)樣品的吸收值。